名稱 | 檢測存在于礦石試樣中的金剛石 | ||
公開號 | 1083214 | 公開日 | 1994.03.02 |
主分類號 | G01N23/083 | 分類號 | G01N23/083;G01N21/59 |
申請號 | 93108276.5 | ||
分案原申請號 | 申請日 | 1993.06.03 | |
頒證日 | 優先權 | [32]1992.6.3[33]GB[31]9211734.0 | |
申請人 | 森桑企業 | 地址 | 列支敦士登瓦杜茲 |
發明人 | M·-L·龍尼; J·G·C·史密夫; M·P·史密夫 | 國際申請 | |
國際公布 | 進入國家日期 | ||
專利代理機構 | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 程天正; 張志醒 |
摘要 | 為了能在勘探時準確而簡單地檢測出金剛面,可將巖面試樣破碎成粉末顆粒,并用處理透射過顆粒薄層的X射線的圖象的方式,來自動地識別出粉末顆粒中是否含有金剛石顆粒(30)。可用將這一圖象與透射過顆粒薄層的另一幅可見光的圖象進行比較的方式來處理圖象。 |